Fuente microfocosa xray

Nuestro microfocus x - La fuente de rayos está especialmente diseñada para una alta inspección de precisión - de componentes electrónicos y ensamblajes.
Con un voltaje máximo de tubo de 90 kV y corriente de tubo de hasta 200 µA, ofrece imágenes de resolución claras y alta - para detectar defectos internos en tableros de circuitos, semiconductores y otros materiales densos. El sistema funciona con un voltaje de entrada de 24 V, asegurando un rendimiento estable y eficiente en entornos industriales.
Optimizado para aplicaciones de microfocus, esta fuente de rayos x - proporciona imágenes nítidas con una distorsión mínima, lo que lo hace particularmente adecuado para la inspección de la junta de soldadura, la detección interna de grietas e identificación de defectos estructurales ocultos. Su diseño compacto permite una fácil integración en los sistemas de inspección de PCB mientras se mantiene una salida estable. La combinación de potencia de penetración de 90 kV y el tamaño de mancha de microfocus fino acortan efectivamente el tiempo de inspección.

Nuestro microfocus x - fuente de rayos (voltaje de operación 40–90kv) es una herramienta versátil diseñada para una inspección de precisión {}}} de alto contenido de componentes electrónicos y piezas metálicas. Se aplica ampliamente en el análisis de PCB y la placa base, así como en la inspección de fundición para las industrias de teléfono móvil, automotriz y aeroespaciales. Se muestra a la derecha se muestra un ejemplo de die - piezas fundidas de un fabricante de teléfonos celulares conocidos de un pozo -. Con este sistema, se pueden identificar claramente defectos como grietas, poros, cavidades de contracción, distribución de material desigual y defectos estructurales internos.

La fuente ofrece una corriente de tubo máxima de 200 µA, soportada por un voltaje de entrada estable de 24 V, asegurando una operación confiable incluso en entornos exigentes. Su diseño de microfocus produce imágenes libres nítidas y de distorsión -, lo que permite a los ingenieros analizar con precisión diferencias estructurales sutiles. Para aplicaciones electrónicas, es particularmente efectivo en la inspección de juntas de soldadura, análisis de chips BGA y envasado de semiconductores. Para las partes metálicas, su fuerte penetración permite una observación profundasincomprometidoClaridad de la imagen.

Con su diseño compacto, la fuente de rayos de 40–90kv x - es fácil de integrar en los sistemas de inspección, proporcionando a los fabricantes una poderosa solución para control de calidad, I + D y análisis de fallas. Al combinar los detalles de enfoque fino con una fuerte penetración, mejora la confiabilidad de la inspección al tiempo que reduce significativamente el tiempo de inspección.